來源：皓天鑫設(shè)備有限公司??????????2026年01月08日 11:18
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近日，皓天鑫自主研發(fā)的HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱順利通過連續(xù)1000小時(shí)穩(wěn)定運(yùn)行測試。在整個(gè)測試期間，設(shè)備始終保持設(shè)定的高溫高濕穩(wěn)態(tài)環(huán)境，各項(xiàng)性能參數(shù)精準(zhǔn)穩(wěn)定，實(shí)現(xiàn)了芯片老化測試連續(xù)可靠運(yùn)行的新突破。該測試結(jié)果有效應(yīng)對了芯片行業(yè)在長期可靠性驗(yàn)證中“測試周期長、環(huán)境波動(dòng)大、數(shù)據(jù)一致性難保障"的普遍難點(diǎn)，為半導(dǎo)體與集成電路產(chǎn)品的持續(xù)高質(zhì)量驗(yàn)證提供了堅(jiān)實(shí)支撐。

在芯片可靠性測試領(lǐng)域，設(shè)備能否在高溫、高濕、高壓條件下持續(xù)穩(wěn)定運(yùn)行，直接關(guān)系到芯片壽命評估的準(zhǔn)確性與測試效率。傳統(tǒng)老化箱在連續(xù)長時(shí)間運(yùn)行中，容易出現(xiàn)溫濕度漂移、均勻性下降等問題，不僅影響測試進(jìn)程、拉長產(chǎn)品上市周期，還可能因環(huán)境波動(dòng)導(dǎo)致測試結(jié)果無效，造成研發(fā)資源與時(shí)間的雙重?fù)p耗。尤其在芯片驗(yàn)證階段，設(shè)備穩(wěn)定性已成為保障測試數(shù)據(jù)可靠、加快產(chǎn)品迭代的關(guān)鍵一環(huán)。

皓天鑫HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱能夠?qū)崿F(xiàn)千小時(shí)連續(xù)穩(wěn)定運(yùn)行，核心在于其多層次的技術(shù)保障體系。設(shè)備采用高密封性箱體結(jié)構(gòu)與均勻循環(huán)風(fēng)道設(shè)計(jì)，確保箱內(nèi)各點(diǎn)溫濕度分布高度一致；選用進(jìn)口高精度傳感器與閉環(huán)控制系統(tǒng)，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)溫濕度參數(shù)，將波動(dòng)范圍控制在±0.5%以內(nèi)；搭載智能預(yù)警與數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，可實(shí)時(shí)監(jiān)測試驗(yàn)狀態(tài)，提前預(yù)警潛在異常，確保測試過程全程可追溯、可分析。

測試數(shù)據(jù)表明，設(shè)備在連續(xù)1000小時(shí)運(yùn)行期間，溫度均勻性保持在±0.3℃以內(nèi)，濕度偏差不超過±1.5%RH,各項(xiàng)指標(biāo)均符合芯片行業(yè)嚴(yán)苛的測試標(biāo)準(zhǔn)。相較于常規(guī)設(shè)備，其連續(xù)運(yùn)行時(shí)長與參數(shù)穩(wěn)定性顯著提升，可支持企業(yè)開展不間斷、高一致性的老化驗(yàn)證工作，極大提高了測試效率與數(shù)據(jù)可信度。

此次測試獲得行業(yè)內(nèi)多家芯片設(shè)計(jì)企業(yè)與檢測機(jī)構(gòu)關(guān)注，部分客戶已前往實(shí)地考察并洽談合作。皓天鑫相關(guān)負(fù)責(zé)人表示，設(shè)備長期穩(wěn)定運(yùn)行是可靠性測試裝備的核心價(jià)值，本次測試充分體現(xiàn)了公司在環(huán)境模擬與長效控制方面的技術(shù)積累。未來，公司將繼續(xù)聚焦高可靠、智能化的測試設(shè)備研發(fā)，為芯片行業(yè)提供更精準(zhǔn)、更穩(wěn)定的壽命驗(yàn)證解決方案。行業(yè)分析認(rèn)為，該設(shè)備的成功應(yīng)用，標(biāo)志著國內(nèi)芯片老化測試裝備在長效穩(wěn)態(tài)運(yùn)行方面取得重要進(jìn)展，將推動(dòng)相關(guān)測試由“分段式"向“連續(xù)化、高可靠"階段邁進(jìn)。